Apple đã nộp hai bằng sáng chế liên quan đến công nghệ pin giúp giảm kích thước pin thiết bị và cho phép thiết bị phát hiện hiện tượng phồng pin. Những công nghệ này song hành cùng nhau để tạo ra các thiết bị ngày càng nhỏ hơn, trong khi vẫn giữ chúng an toàn hơn cho người dùng.
Cả hai bằng sáng chế này đều quan trọng đối với mục tiêu của Apple là đạt được các thiết bị nhỏ hơn mà người dùng mang theo hoặc đeo hàng ngày. Ví dụ, vỏ pin quá nhỏ trên chiếc Samsung Galaxy Note 7 xấu số từng dẫn đến việc các thiết bị này đã phát nổ dữ dội. Nếu Apple tìm cách giảm kích thước vỏ pin, họ cũng cần tính đến khả năng phồng pin.
Ngay cả iPhone của Apple cũng không miễn nhiễm với tình trạng phồng pin, vì nó là một tác dụng phụ của chất hóa học pin trong lithium-ion. Việc phát hiện và ngăn chặn hiện tượng phồng pin, hoặc ít nhất là cảnh báo người dùng về việc pin đã chai sần sẽ là một chặng đường dài cho sự an toàn của người dùng.
Đi sâu vào chi tiết thì bằng sáng chế mô tả giải pháp để phát hiện và giảm thiểu tình trạng phồng pin, bất kể pin dành cho ô tô hay điện thoại thông minh.
Sau khi phát hiện tình trạng phồng pin, bộ xử lý được kết hợp với cảm biến sẽ xác định cách làm chậm quá trình phồng pin, hoặc ngăn chặn sự phồng đó ở mức tối đa nhất. Điều này sẽ được thực hiện bằng cách điều chỉnh mức sạc hoặc xả của pin tùy thuộc vào nguyên nhân gây phồng.
Bằng sáng chế này cũng mô tả việc sử dụng một số cảm biến khác nhau để xác định sức căng phồng, cộng hưởng âm thanh, gián đoạn tiếp xúc hoặc áp suất pin và sẽ cảnh báo người dùng nếu tình trạng pin đã ở kỳ cuối cần phải thay gấp và không nên cố tiếp tục sử dụng.